一体化大豆表型检测系统

关键词：BX-T929一体化大豆表型检测系统

大豆检测  大豆品质检测  大豆表型分析  大豆的含量表  大豆表型检测仪

■产品用途：

一体化大豆表型检测系统可以测量大豆夹角、茎粗、总粒数和千粒重等指标，这些高通量表型参数为大豆品种筛选、产量预测、基因定位、功能解析等方面发挥着至关重要的作用。

■仪器特点：

1、一体式连接：压板和转轴柄一体式连接，方便固定作物茎部，减少风吹草动对作物角度拍摄的影响。

2、拍照识别自动去杂质：成像清晰，数粒准确。

3、数粒速度快：1000粒以下种子识别只需1秒。

4、数粒范围广：种子范围能测10粒以上，8000粒以下的种子。

5、自动换成千粒重：可通过识别的种子粒数，输入重量，可自动换算出千粒重。

6、高度不固定：不限制用户拍照的高度，操作简单，使用方便。 

7、比例尺自动矫正：任意手机可拍照，且拍摄成像视角可以被自动矫正，避免了拍照变形误差。

8、智能修正：触摸屏幕可进行修正，使结果更精准，可达100%。

9、数据查看：数据查看多样化，拍照分析后即可查看结果，也可在历史记录中查看数据报表。

10、数据导出和共享：支持数据修正、查询、编辑和导出，数据可导出Excel格式，并可分享至微信、QQ或者钉钉，便于多应用方式查看数据。

11、重复性数值误差较小：手机和作物之间固定距离设置，重复性拍摄夹角角度无差异。

■技术参数：

适用范围：

1、大豆夹角适用于花芽分化期、开花结荚期、鼓粒期、成熟期进行测量；

2、千粒重测量和种子计数系统几乎可以识别计数所有常见种子，包括玉米，水稻，小麦，大豆，油菜籽，花生，芝麻，绿豆，红豆，草籽等。

测量范围和误差：

大豆夹角测量范围0-180°，误差±5%；

大豆茎粗测量范围0-5.2cm，误差±1%；

千粒重测量误差：误差±2‰，修正后可达100%；